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SEM+EDS分析 |
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SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子和背散射电子等信号，这些信号被转换为图像，从而揭示样品的微观形貌和结构信息。
EDS的工作原理是利用高能电子束轰击样品表面，激发原子内层电子并产生特征X射线，通过测量X射线的能量可以确定元素的种类和浓度。
SEM+EDS分析技术广泛应用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物等领域，进行样品形貌观察、成分分析、结构鉴定等。
SEM+EDS分析技术可以用于分析不同批次材料的成分差异，为质量控制和生产过程优化提供重要信息。
在SEM+EDS分析中，可以通过点分析、线分析和面分析等方式，获取样品中不同区域的元素分布信息。
SEM+EDS分析技术可以用于研究材料的微观力学性能和断裂行为，为材料的力学性能和断裂机理研究提供重要信息。
在SEM+EDS分析中，可以通过与其他分析技术如透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）等结合使用，获取更全面的材料信息。
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